第一篇：UT超聲波探傷一級(jí)培訓(xùn)考試題

成都UT超聲波探傷一級(jí)培訓(xùn)考試

1,<承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)>JB/T4730-2005規(guī)定，下列說(shuō)話正確的是：C A,斜探頭近場(chǎng)分辨率應(yīng)不小于6dB,只適用于橫波 B,斜探頭近場(chǎng)分辨率應(yīng)不小于10dB,只適用于橫波

C，斜探頭遠(yuǎn)場(chǎng)分辨率應(yīng)不小于6dB,只適用于縱波，橫波 D,斜探頭遠(yuǎn)場(chǎng)分辨率應(yīng)不小于10dB,只適用于縱波，橫波

2,調(diào)節(jié)超聲波探傷儀的(A)旋鈕會(huì)改變儀器的分辨力和近場(chǎng)盲區(qū)值 A.發(fā)射強(qiáng)度

B.深度范圍

C.抑制

D.延遲

3.一個(gè)垂直線性的儀器，在不改變?cè)鲆婧桶l(fā)射強(qiáng)度的情況下，欲將顯示屏上的波幅由80%降至10%高度，應(yīng)衰減（C)dB.A.10

B.18

C.20 D.24 4.<承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)>JB/T4730-2005規(guī)定，對(duì)焊縫缺陷長(zhǎng)度進(jìn)行超聲檢測(cè)時(shí)，掃查靈敏度應(yīng)（D）A.不低于基準(zhǔn)靈敏度

B.不低于評(píng)定線靈敏度

C.根據(jù)需要確定

D.以缺陷反射波高為基準(zhǔn)，調(diào)至規(guī)定波高測(cè)量

5.母材厚度為26mm的平板對(duì)接接頭，按<承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)>JB/T4730-2005 B級(jí)檢測(cè)技術(shù)規(guī)定，最有效的檢測(cè)方法是（A)A.一般用一種K值探頭采用直射波法和一次發(fā)射法波在平板對(duì)接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè) B.一般用一種K值探頭采用直射法在平板對(duì)接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)

C.一般用一種K值探頭采用一次反射波法在平板對(duì)接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè) D.一般用兩種K值探頭采用一次反射波法在平板對(duì)接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)

6.當(dāng)聲程大于3N時(shí)，不考慮材質(zhì)衰減的影響，若平底孔孔徑相同，聲程增加一倍，則工件平底孔的回波幅度將降低（A）dB.A.12 B.6

C.3

D.9 7.大型鍛件的超聲波探傷，使用工件大平底校準(zhǔn)探傷靈敏度時(shí)，一般情況下（D）

A.不必考慮探傷面的耦合補(bǔ)償

B.不必考慮材質(zhì)的衰減補(bǔ)償

C.不必使用對(duì)比試塊

D，以上都對(duì)。

8.<承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)>JB/T4730-2005規(guī)定，采用A型脈沖反射試超聲波探傷儀，其工件頻率范圍為0.5MHZ-10MHZ，儀器至少在熒光屏滿刻度的80%范圍內(nèi)呈線性顯示。線性是指（D）A.水平線性

B.盲區(qū)

C.始脈沖寬度

D.垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍的綜合反應(yīng)

9.超聲縱波以介于第一與第二臨界角的入射角方向傾斜入射到有機(jī)玻璃|鋼的界面上，正確的縱波和橫波的反射波，折射波方向示意圖是（B)A.5條線

B,4條線

C，3條線

D，2條線

10.<承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)>JB/T4730-2005規(guī)定超聲波儀器在使用過(guò)程中，至少（C）A.每一年

B，每半年

C.每隔三個(gè)月

D每工作4小時(shí) 11.由材料晶粒粗大引起的衰減屬于（B）A.擴(kuò)散

B.散射

C.吸收

D.以上全是

12.（D）是焊接冷裂紋產(chǎn)生的冷裂紋的原因。

A.焊接應(yīng)力過(guò)大

B.焊縫中含氫量過(guò)高

C，熱影響區(qū)出現(xiàn)淬硬組織 D.以上都是

13.關(guān)于超聲波檢測(cè)儀器的維護(hù)與保養(yǎng)錯(cuò)誤的是（B)A,使用儀器前，仔細(xì)閱讀說(shuō)明書，嚴(yán)格按說(shuō)明書要求操作

B.連接直流電源時(shí)，應(yīng)仔細(xì)核對(duì)儀器額定電源電壓，和市電電壓,防止錯(cuò)接電源

C.搬動(dòng)儀器時(shí)應(yīng)防止強(qiáng)烈震動(dòng),現(xiàn)場(chǎng)探傷尤其高空作業(yè)時(shí)，應(yīng)采用可靠保護(hù)措施，防止儀器摔破

D.搭接電源插頭和探頭插頭時(shí)，應(yīng)采用手抓住插頭殼體操作，不要抓住電纜線拔插。探頭線和電源線應(yīng)理順。不要彎折扭曲。

14.以下（C）不是2.5P13X13K2探頭的正確表述。

A.橫波斜探頭

B.晶片尺寸為13X13

C。晶片的實(shí)際共振頻率為2.5MHZ

D在鋼中橫波折射角的正切值為2 15.探傷時(shí)采用較高的探測(cè)頻率，可有利于（D）A.發(fā)現(xiàn)較小的缺陷

B，區(qū)分開相鄰的缺陷

C，改善聲束指向性

D以上全部 16.斜探頭K值隨溫度升高而增大的原因（A）A.有機(jī)玻璃斜鍥中聲速比工件材料中聲速下降快 B.有機(jī)玻璃斜鍥與工件材料中聲速按相同比例降低 C.有機(jī)玻璃斜鍥中聲速比工件中聲速增加快 D.有機(jī)玻璃斜鍥中聲速比工件中聲速增加慢

17.相鄰兩缺陷在一直線上，其間距小于其中較小的缺陷長(zhǎng)度，按<承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)>JB/T4730-2005規(guī)定，如何進(jìn)行質(zhì)量的評(píng)級(jí)處理（B)A.應(yīng)作為一條缺陷處理，以兩缺陷長(zhǎng)度之和作為其指示長(zhǎng)度，其間距應(yīng)也記入缺陷長(zhǎng)度 B.應(yīng)作為一條缺陷處理，以兩缺陷長(zhǎng)度之和作為其指示長(zhǎng)度，其間距應(yīng)不記入缺陷長(zhǎng)度 C.應(yīng)作為兩條缺陷處理，風(fēng)別進(jìn)行質(zhì)量評(píng)級(jí)處理，以較嚴(yán)重作為該接頭的質(zhì)量級(jí)別 D,以上都不對(duì)

18.<承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)>JB/T4730-2005規(guī)定，有關(guān)靈敏度說(shuō)法正確的是（B)A,基準(zhǔn)靈敏度一般是指記錄靈敏度，掃查靈敏度是實(shí)際檢測(cè)靈敏度 B.基準(zhǔn)靈敏度一般是指實(shí)際檢測(cè)靈敏度，掃查靈敏度是記錄靈敏度 C.掃查靈敏度比基準(zhǔn)靈敏度高6dB, D.掃查靈敏應(yīng)低于最大聲程處的評(píng)定線

19.超聲波檢測(cè)板厚為48mm的容器焊縫,已知前次檢測(cè)曾在內(nèi)表面發(fā)現(xiàn)裂紋，現(xiàn)采用下述哪種K值的探頭在外表面檢測(cè)比較合適（A）

A.K=1.0

B.K=2.0

C,K=2,5

D，K=3.0 20.為檢測(cè)出對(duì)接焊接接頭中不同角度的缺陷，應(yīng)采取的方法是（B)A,提高探測(cè)頻率，B，用多種折射角度的探頭 C.修磨檢測(cè)面

D,用不同晶片尺寸的探頭 判斷題

1.探傷波在介質(zhì)中傳播速度與介質(zhì)的種類，波的類型，超聲波的頻率有關(guān)。（X）2.在介質(zhì)中傳播的超聲縱波，其質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)方向平行于波的傳播方向。（R）

3.<承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)>JB/T4730-2005規(guī)定，鋼板探傷時(shí)，底波的降低和消失同樣是判定缺陷存在的依據(jù)。

（R）

4.<承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)>JB/T4730-2005規(guī)定，板厚不小于探頭的3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，也可取鋼板無(wú)缺陷完好部位的第一次低波來(lái)校準(zhǔn)靈敏度，應(yīng)當(dāng)將第一次反射底波高調(diào)整到滿刻度的80%作為基準(zhǔn)靈敏度。（）5.垂直線性差的超聲波探傷儀器，會(huì)眼鎮(zhèn)南關(guān)影響缺陷的定位精度。（）6.探頭的晶片直徑越大，其近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度和半擴(kuò)散角越大。（）

7.<承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)>JB/T4730-2005規(guī)定：承壓設(shè)備備用鋼鍛件超聲檢測(cè)的掃查靈敏度，一般不得低于最大檢測(cè)距離處的Φ５mm平底孔當(dāng)量直徑。（）

8.<承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)>JB/T4730-2005規(guī)定：有延遲裂紋傾向的材料應(yīng)在熱處理完成24小時(shí)之后進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)。（）

9.<承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)>JB/T4730-2005規(guī)定：為確保檢測(cè)時(shí)超聲聲束能掃查到工件的整個(gè)被檢區(qū)域，探頭的每次掃差覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的10%（）

10.使用雙高晶直探頭能減少近場(chǎng)盲區(qū)，有利于近表面缺陷的超聲檢測(cè)。（）11.《固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》（TSG R0004-2009)規(guī)定：壓力容器設(shè)計(jì)壓力P為1.6MPA≤P＜10MPA時(shí)，則該壓力容器為高壓容器。（）

12.超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時(shí)，同種波型的折射角一定大于入射角。（）

13.碳含量越低，組織中的鐵素體的含量就越多，塑性和韌性也就越好，但強(qiáng)度和硬度卻隨之降低。（）14.《特種設(shè)備人員無(wú)損檢測(cè)考核規(guī)則》TSG Z8001-2013規(guī)定：中斷執(zhí)業(yè)6個(gè)月以上（含6個(gè)月）人員，應(yīng)當(dāng)參加同級(jí)別與項(xiàng)目的取證考試，合格后申請(qǐng)?jiān)?xiàng)目與級(jí)別的《檢測(cè)人員證》。（）

15.由于焊縫金屬經(jīng)歷了兩次結(jié)晶過(guò)程，因此焊接接頭的薄弱環(huán)節(jié)在焊縫面不在熔合區(qū)和熱影響區(qū)。（）16.焊縫探傷使用6dB法對(duì)缺陷測(cè)長(zhǎng)時(shí)，對(duì)同一缺陷，分別用一次波和二次測(cè)量，所得的指示長(zhǎng)度應(yīng)是一致的。（）17.<承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)>JB/T4730-2005規(guī)定：對(duì)接焊接接頭的超聲波檢測(cè)時(shí)，對(duì)反射波幅位于I區(qū)的缺陷無(wú)需評(píng)定。18.當(dāng)工件厚度較大時(shí)，用較小的K值，以減少聲程較大引起的衰減，便于發(fā)現(xiàn)深度較處的缺陷。（）

19.焊接接頭用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CSK-IA,CSK-IIA,CSK-IIIA,CSK-IVA,其尺寸精度應(yīng)符合<承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)>JB/T4730-2005規(guī)定的要求，并應(yīng)設(shè)計(jì)計(jì)量部門檢定合格。（）

20.<承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)>JB/T4730-2005規(guī)定：鋼對(duì)接接頭（平板，管座，T型）的超聲波檢測(cè)的掃查靈敏度應(yīng)當(dāng)不低于它們各自探測(cè)時(shí)最大聲程處的距離波幅曲線評(píng)定線靈敏。（）

第二篇：超聲波探傷培訓(xùn)教程

培訓(xùn)教材之理論基礎(chǔ)------

滲透檢測(cè)適用于金屬制品及其零部件表面開口缺陷的檢測(cè)，包括熒光和著色滲透檢測(cè)。

渦流檢測(cè)適用于管材檢測(cè)，如圓形無(wú)縫鋼管及焊接鋼管、鋁及鋁合金拉薄壁管等。

磁粉、滲透和渦流統(tǒng)稱為表面檢測(cè)。

波長(zhǎng)?：同一波線上相鄰兩振動(dòng)相位相同的質(zhì)點(diǎn)間的距離稱為波長(zhǎng)，波源或介質(zhì)中任意一質(zhì)點(diǎn)完成一次全振動(dòng)，波正好前進(jìn)一個(gè)波長(zhǎng)的距離，常用單位為米(m)；頻率f：波動(dòng)過(guò)程中，任一給定點(diǎn)在1秒鐘內(nèi)所通過(guò)的完整波的個(gè)數(shù)稱為頻率，常用單位為赫茲(Hz)；波速C：波動(dòng)中，波在單位時(shí)間內(nèi)所傳播的距離稱為波速，常用單位為米/秒（m/s）。

由上述定義可得：C=? f，即波長(zhǎng)與波速成正比，與頻率成反比；當(dāng)頻率一定時(shí)，波速愈大，波長(zhǎng)就愈長(zhǎng)；當(dāng)波速一定時(shí)，頻率愈低，波長(zhǎng)就愈長(zhǎng)。

次聲波、聲波和超聲波都是在彈性介質(zhì)中傳播的機(jī)械波，在同一介質(zhì)中的傳播速度相同。它們的區(qū)別在主要在于頻率不同。頻率在20~20000Hz之間的能引起人們聽覺(jué)的機(jī)械波稱為聲波，頻率低于20Hz的機(jī)械波稱為次聲波，頻率高于20000Hz的機(jī)械波稱為超聲波。次聲波、超聲波不可聞。

超聲探傷所用的頻率一般在0.5~10MHz之間，對(duì)鋼等金屬材料的檢驗(yàn)，常用的頻率為1~5MHz。超聲波波長(zhǎng)很短，由此決定了超聲波具有一些重要特性，使其能廣泛用于無(wú)損探傷。

1.方向性好：超聲波是頻率很高、波長(zhǎng)很短的機(jī)械波，在無(wú)損探傷中使用的波長(zhǎng)為毫米級(jí)；超聲波象光波一樣具有良好的方向性，可以定向發(fā)射，易于在被檢材料中發(fā)現(xiàn)缺陷。

2.能量高：由于能量（聲強(qiáng)）與頻率平方成正比，因此超聲波的能量遠(yuǎn)大于一般聲波的能量。

3.能在界面上產(chǎn)生反射、折射和波型轉(zhuǎn)換：超聲波具有幾何聲學(xué)的上一些特點(diǎn)，如在介質(zhì)中直線傳播，遇界面產(chǎn)生反射、折射和波型轉(zhuǎn)換等。

4.穿透能力強(qiáng)：超聲波在大多數(shù)介質(zhì)中傳播時(shí)，傳播能量損失小，傳播距離大，穿透能力強(qiáng)，在一些金屬材料中其穿透能力可達(dá)數(shù)米。

互相垂直的波，稱為橫波，用S或T表示。

當(dāng)介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)受到交變的剪切應(yīng)力作用時(shí)，產(chǎn)生剪切形變，從而形成橫波；只有固體介質(zhì)才能承受剪切應(yīng)力，液體和氣體介質(zhì)不能承受剪切應(yīng)力，因此橫波只能在固體介質(zhì)中傳播，不能在液體和氣體介質(zhì)中傳播。鋼中橫波聲速一般為3230m/s。橫波一般應(yīng)用于焊縫、鋼管探傷。3.表面波R 當(dāng)介質(zhì)表面受到交變應(yīng)力作用時(shí)，產(chǎn)生沿介質(zhì)表面?zhèn)鞑サ牟?，稱為表面波，常用R表示。又稱瑞利波。

表面波在介質(zhì)表面?zhèn)鞑r(shí)，介質(zhì)表面質(zhì)點(diǎn)作橢圓運(yùn)動(dòng)，橢圓長(zhǎng)軸垂直于波的傳播方向，短軸平行于波的傳播方向；橢圓運(yùn)動(dòng)可視為縱向振動(dòng)與橫向振動(dòng)的合成，即縱波與橫波的合成，因此表面波只能在固體介質(zhì)中傳播，不能在液體和氣體介質(zhì)中傳播。

表面波的能量隨深度增加而迅速減弱，當(dāng)傳播深度超過(guò)兩倍波長(zhǎng)時(shí)，質(zhì)點(diǎn)的振幅就已經(jīng)很小了，因此，一般認(rèn)為表面波探傷只能發(fā)現(xiàn)距工件表面兩倍波長(zhǎng)深度內(nèi)的缺陷。表面波一般應(yīng)用于鋼管探傷。4.板波

在板厚與波長(zhǎng)相當(dāng)?shù)谋“逯袀鞑サ牟?，稱為板波。根據(jù)質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)方向不同可將板波分為SH波和蘭姆波。板波一般應(yīng)用于薄板、薄壁鋼管探傷。

二．超聲波聲速測(cè)量

對(duì)探傷人員來(lái)說(shuō)，用探傷儀測(cè)量聲速是最簡(jiǎn)便的，用這種方法測(cè)聲速，可用單探頭反射法或雙探頭穿透法；可用于測(cè)縱波聲速和橫波聲速。

1.反射法測(cè)縱波聲速 聲速按下式計(jì)算：

聲速 C=2d/(T1-t)； t = 2T1 – T2 式中 d------工件厚度；

t------由探頭晶片至工件表面?zhèn)鬏敃r(shí)間；

T1------由探頭晶片至工件底一次波傳輸時(shí)間；

T2------由探頭晶片至工件底二次波傳輸時(shí)間；

2.穿透法測(cè)縱波聲速 聲速按下式計(jì)算：

聲速 C=d/(T1-t)； t = 2T1 – T2 式中 d------工件厚度；

t------由探頭晶片至工件表面?zhèn)鬏敃r(shí)間；

T1------由探頭晶片至工件底一次波傳輸時(shí)間；

T2------由探頭晶片至工件底二次波傳輸時(shí)間；

3.反射法測(cè)橫波聲速

用半圓弧測(cè)橫波聲速，按下式計(jì)算： 聲速 C=2d/(T1-t)； t = 2T1 – T2 式中 d------半圓半徑長(zhǎng)度；

t------由探頭晶片至半圓弧探測(cè)面?zhèn)鬏敃r(shí)間；

T1------由探頭晶片至圓弧面一次波傳輸時(shí)間；

T2------由探頭晶片至圓弧面二

次波傳輸時(shí)間；

動(dòng)中任何質(zhì)點(diǎn)都可以看作是新的波源。據(jù)此惠更斯提出了著名的惠更斯原理：介質(zhì)中波動(dòng)傳播到的各點(diǎn)都可以看作是發(fā)射子波的波源，在其后任意時(shí)刻這些子波的包跡就決定新的波陣面。2.波的衍射（繞射）

波在傳播過(guò)程中遇到與波長(zhǎng)相當(dāng)?shù)恼系K物時(shí)，能繞過(guò)障礙物邊緣改變方向繼續(xù)前進(jìn)的現(xiàn)象，稱為波的衍射或波的繞射。如右圖，超聲波（波長(zhǎng)為?）在介質(zhì)中傳播時(shí)，AB（其尺寸為D）遇到缺陷，據(jù)惠更斯原理，缺陷邊緣可以看作是發(fā)射子波的波源，使波的傳播改變，從 而使缺陷背后的聲影縮小，反射波降低。

當(dāng)D<>?時(shí)，反射強(qiáng)，繞射弱，聲波幾乎全反射。

波的繞射對(duì)探傷即有利又不利。由于波的繞射，使超聲波產(chǎn)生晶料繞射順利地在介質(zhì)中傳播，這對(duì)探傷有利；但同時(shí)由于波的繞射，使一些小缺陷回波顯著下降，以致造成漏檢，這對(duì)探傷不利。一般超聲波探傷靈敏度約為?/2。

三． 超聲場(chǎng)的特征值

充滿超聲波的空間或超聲振動(dòng)所波及的部分介質(zhì)，叫超聲場(chǎng)；超聲場(chǎng)具有一定的空間大小和形狀，只有當(dāng)缺陷位于超聲場(chǎng)內(nèi)時(shí)，才有可能被發(fā)現(xiàn)。描述超聲場(chǎng)的特征植（即物理量）主要有聲壓、聲強(qiáng)和聲

阻抗。1.聲壓P 超聲場(chǎng)中某一點(diǎn)在某一時(shí)刻所具有的壓強(qiáng)P1與沒(méi)有超聲波存在時(shí)的靜態(tài)壓強(qiáng)P0之差，稱為該點(diǎn)的聲壓，用P表示（P = P1-P0）。

聲壓幅值 p = ?cu = ?c(2?fA)其中 ?----介質(zhì)的密度;c----波速;u----質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)速度； A----聲壓最大幅值； f----頻率。

超聲場(chǎng)中某一點(diǎn)的聲壓的幅值與介質(zhì)的密度、波速和頻率成正比。在超聲波探傷儀上，屏幕上顯示的波高與聲壓成正比。2.聲阻抗Z 超聲場(chǎng)中任一點(diǎn)的聲壓p與該處質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)速度u之比稱為聲阻抗，常用Z表示。

Z = p / u = ?cu / u = ?c 由上式可知，聲阻抗的大小等于介質(zhì)的密度與波速的乘積。由u = P/Z可知，在

同一聲壓下，Z增加，質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)速度下降。因此聲阻抗Z可理解為介質(zhì)對(duì)質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)的阻礙作用。超聲波在兩種介質(zhì)組成的界面上的反射和透射情況與兩種介質(zhì)的聲阻抗密切相關(guān)。3.聲強(qiáng)I 單位時(shí)間內(nèi)垂直通過(guò)單位面積的聲能稱為聲強(qiáng)，常用I表示。

22I = Z u/2 = P/(2Z)當(dāng)超聲波傳播到介質(zhì)中某處時(shí)，該處原來(lái)靜止不動(dòng)的質(zhì)點(diǎn)開始振動(dòng)，因而具有動(dòng)能；同時(shí)該處介質(zhì)產(chǎn)生彈性變形，因而也具有彈性位能；聲能為兩者之和。

聲波的聲強(qiáng)與頻率平方成正比，而超聲波的頻率遠(yuǎn)大于可聞聲波。因此超聲波的聲強(qiáng)也遠(yuǎn)大于可聞聲波的聲強(qiáng)。這是超聲波能用于探傷的重要原因。

在同一介質(zhì)中，超聲波的聲強(qiáng)與聲壓的平方成正比。

四． 分貝的概念與應(yīng)用

1.概念

由于在生產(chǎn)和科學(xué)實(shí)驗(yàn)中，所遇到的聲強(qiáng)數(shù)量級(jí)往往相差懸殊，如引起聽覺(jué)的聲-16 2– 4 強(qiáng)范圍為10~ 10瓦/厘米，最大值與最小值相差12個(gè)數(shù)量級(jí)。顯然采用絕對(duì)量來(lái)度量是不方便的，但如果對(duì)其比值（相對(duì)量）取對(duì)數(shù)來(lái)比較計(jì)算則可大簡(jiǎn)化運(yùn)算。分貝就是兩個(gè)同量綱的量之比取對(duì)數(shù)后的單位。

通常規(guī)定引起聽覺(jué)的最弱聲強(qiáng)為I1 = 10 2–16 瓦/厘米 作為聲強(qiáng)的標(biāo)準(zhǔn)，另一聲強(qiáng)I2與標(biāo)準(zhǔn)聲強(qiáng)I1 之比的常用對(duì)數(shù)稱為聲強(qiáng)級(jí)，單位是貝爾(BeL)。實(shí)際應(yīng)用時(shí)貝爾太大，故常取1/10貝爾即分貝（dB）來(lái)作單位。（如取自然對(duì)數(shù)，則單位為奈培NP）

? = lg(I2/I1)(Bel)=10 lg(I2/I1)= 20 lg(P2/P1)(dB)在超聲波探傷中，當(dāng)超聲波探傷儀的垂直線性較好時(shí)，儀器屏幕上的波高與聲壓

成正比。這時(shí)有

? = 20 lg(P2/P1)= 20 lg(H2/H1)(dB)這時(shí)聲壓基準(zhǔn)P1或波高基準(zhǔn)H1可以任意選取。2.應(yīng)用

分貝用于表示兩個(gè)相差很大的量之比顯得很方便，在聲學(xué)和電學(xué)中都得到廣泛的應(yīng)用，特別是在超聲波探傷中應(yīng)用更為廣泛。例如屏上兩波高的比較就常常用dB表示。

例如，屏上一波高為80％，另一波高為20％，則前者比后者高

? = 20 lg(H2/H1)= 20 lg(80/20)= 12（dB）

用分貝值表示回波幅度的相互關(guān)系，不僅可以簡(jiǎn)化運(yùn)算，而且在確定基準(zhǔn)波高以后，可直接用儀器的增益值（數(shù)字機(jī)）或衰減值（模擬機(jī)）來(lái)表示缺陷波相對(duì)波高。

超聲波從一種介質(zhì)傳播到另一種介質(zhì)時(shí)，在兩種介質(zhì)的分界面上，一部分能量反射回原介質(zhì)內(nèi)，稱為反射波；另一部分能量透過(guò)界面在另一種介質(zhì)內(nèi)傳播，稱為透射波。在界面上聲能（聲壓、聲強(qiáng)）的分配和傳播方向的變化都將遵循一定的規(guī)律。

一． 單一界面的反射和透射

聲能的變化與兩種介質(zhì)的聲阻抗密切相關(guān)，設(shè)波從介質(zhì)1（聲阻抗Z1）入射到介質(zhì)2（聲阻抗Z2），有以下幾種情況： 1.Z2 > Z1

聲壓反射率小于透射率。如水/鋼界面。2.Z1> Z2

聲壓反射率大于透射率。如鋼/水界面。聲強(qiáng)反射率及透射率只與Z1、Z2的數(shù)值有關(guān)，與從哪種介質(zhì)入射無(wú)關(guān)。3.Z1>> Z2

聲壓（聲強(qiáng)）幾乎全反射，透射率趨于0。如鋼/空氣界面。

4.Z1? Z2

此時(shí)幾乎全透射，無(wú)反射。因此在焊縫探傷中，若母材與填充金屬結(jié)合面沒(méi)有任何缺陷，是不會(huì)產(chǎn)生界面回波的。

二． 薄層界面的反射和透射

此情況主要對(duì)探頭保護(hù)膜設(shè)計(jì)具有指導(dǎo)意義。

當(dāng)超聲波依次從三種介質(zhì)Z1、Z2、Z3(如晶片—保護(hù)膜—工件)中穿過(guò)，則當(dāng)薄層厚度等于半波長(zhǎng)的整數(shù)倍時(shí)，通過(guò)薄層的聲強(qiáng)透射與薄層的性質(zhì)無(wú)關(guān)，即好象不存在薄層一樣；當(dāng)薄層厚度等于四分之一波長(zhǎng)的奇數(shù)倍且薄層聲阻抗為其兩側(cè)介質(zhì)

1/2 聲阻抗幾何平均值（Z2 =（Z2 Z3））時(shí)，超聲波全透射

三． 波型轉(zhuǎn)換和反射、折射定律 當(dāng)超聲波傾斜入射到界面時(shí)，除產(chǎn)生同種類型的反射和折射波外，還會(huì)產(chǎn)生不同類型的反射和折射波，這種現(xiàn)象稱為波型

轉(zhuǎn)換。

1.縱波斜入射

2.橫波入射

四． 超聲波的衰減 超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)，隨著距離增加，超聲波能量逐漸減弱的現(xiàn)象叫做超聲波衰減。引起超聲波衰減的主要原因是波束擴(kuò)散、晶粒散射和介質(zhì)吸收 1.擴(kuò)散衰減

超聲波在傳播過(guò)程中，由于波束的擴(kuò)散，使超聲波的能量隨距離增加面逐漸減弱的現(xiàn)象叫做擴(kuò)散衰減。超聲波的擴(kuò)散衰減僅取決于波陣面的形狀，與介質(zhì)的性質(zhì)無(wú)關(guān)。

2.散射衰減

超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)，遇到聲阻抗不

同的界面產(chǎn)生散亂反射引起衰減的現(xiàn)象，稱為散射衰減。散射衰減與材質(zhì)的晶粒密切相關(guān)，當(dāng)材質(zhì)晶粒粗大時(shí)，散射衰減嚴(yán)重，被散射的超聲波沿著復(fù)雜的路徑傳播到探頭，在屏上引起林狀回波（又叫草波），使信噪比下降，嚴(yán)重時(shí)噪聲會(huì)湮沒(méi)缺陷波。

3.吸收衰減

超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)，由于介質(zhì)中質(zhì)點(diǎn)間內(nèi)磨擦（即粘滯性）和熱傳導(dǎo)引起超聲波的衰減，稱為吸收衰減或粘滯衰減 通常所說(shuō)的介質(zhì)衰減是指吸收衰減與散射衰減，不包括擴(kuò)散衰減。

較遠(yuǎn)處軸線上的聲壓與距離成反比，與波源面積成正比。1.近場(chǎng)區(qū)

波源附件由于波的干涉而出現(xiàn)一系列聲壓極大極小值的區(qū)域，稱為超聲場(chǎng)的近場(chǎng)區(qū)。近場(chǎng)區(qū)聲壓分布不均，是由于波源各點(diǎn)至軸線上某點(diǎn)的距離不同，存在波程差，互相迭加時(shí)存在位相差而互相干涉，使某些地方聲壓互相加強(qiáng)，另一些地方互相減弱，于是就出現(xiàn)聲壓極大極小值的點(diǎn)。

波源軸線上最后一個(gè)聲壓極大值至波源的距離稱為近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度，用N表示。22 N =（Ds-?）/(4?)? Ds/(4?)2.遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)

波源軸線上至波源的距離x >N的區(qū)域稱為遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)。遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)軸線上的聲壓隨距離增加單調(diào)減少。當(dāng) x >3N時(shí)，聲壓與距離成反比，近似球面波的規(guī)律。因?yàn)榫嚯xx足夠大時(shí)，波源各點(diǎn)至軸線上某一點(diǎn)的波程差很小，引起的相位差也很小，這樣干涉

現(xiàn)象可以略去不計(jì)，所以遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)不會(huì)出現(xiàn)聲壓極大極小值。

3.近場(chǎng)區(qū)在兩種介質(zhì)中分布

實(shí)際探傷時(shí)，有時(shí)近場(chǎng)區(qū)分布在兩種不同的介質(zhì)中，如水浸探傷，超聲波先進(jìn)入水，然后再進(jìn)入鋼中，當(dāng)水層厚度較小時(shí)，近場(chǎng)區(qū)就會(huì)分布在水、鋼兩種介質(zhì)中。設(shè)水層厚度為L(zhǎng)，則鋼中剩余近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度N為 N = Ds/(4?)– Lc1/c2 式中 c1----介質(zhì)1水中波速；

c2----介質(zhì)2鋼中波速；

?----介質(zhì)2鋼中波長(zhǎng)。

在近場(chǎng)區(qū)內(nèi)，實(shí)際聲場(chǎng)與理想聲場(chǎng)存在明顯區(qū)別，實(shí)際聲場(chǎng)軸線上聲壓雖也存在極大極小值，但波動(dòng)幅度小，極值點(diǎn)的數(shù)量也明顯減少。

二． 橫波聲場(chǎng)

目前常用的橫波探頭，是使縱波斜入射到界面上，通過(guò)波形轉(zhuǎn)換來(lái)實(shí)現(xiàn)橫波探傷

的，當(dāng)入射角在

超聲波探傷中常用的規(guī)則反射體有平底孔、長(zhǎng)橫孔、短橫孔、球孔和大平底面等。回波聲壓公式（考慮介質(zhì)衰減因素）：

四． AVG曲線

AVG曲線是描述規(guī)則反射體的距離、回波高及當(dāng)量大小之間關(guān)系的曲線；A、V、G是德文距離、增益和大小的字頭縮寫，英文縮寫為DGS。AVG曲線可用于對(duì)缺陷定量和靈敏度調(diào)整。

以橫坐標(biāo)表示實(shí)際聲程，縱坐標(biāo)表示規(guī)則反射體相對(duì)波高，用來(lái)描述距離、波幅、當(dāng)量大小之間的關(guān)系曲線，稱為實(shí)用AVG曲線。實(shí)用AVG曲線可由以下公式得到： 不同距離的大平底回波dB差

Δ=20lgPB1/PB2=20lgX2/X1 不同距離的不同大小平底孔回波dB差

Δ=20lgPf1/Pf2=40lgDf1X2/Df2X1 同距離的大平底與平底孔回波dB差

Δ=20lgPB/Pf=20lg2λX/πDfDf 用以上公式計(jì)算繪制實(shí)用AVG曲線時(shí)，要統(tǒng)一靈敏度基準(zhǔn)。

坐標(biāo)代表反射波的幅度。由反射波的位置可以確定缺陷位置，由反射波的幅度可以估算缺陷大小。B型：B型顯示是一種圖象顯示，屏幕的橫坐標(biāo)代表探頭的掃查軌跡，縱坐標(biāo)代表聲波的傳播距離，因而可直觀地顯示出被探工件任一縱截面上缺陷的分布及缺陷的深度。C型：C型顯示也是一種圖象顯示，屏幕的橫坐標(biāo)和縱坐標(biāo)都代表探頭在工件表面的位置，探頭接收信號(hào)幅度以光點(diǎn)輝度表示，因而當(dāng)探頭在工件表面移動(dòng)時(shí)，屏上顯示出被探工件內(nèi)部缺陷的平面圖象，但不能顯示缺陷的深度。

目前，探傷中廣泛使用的超聲波探傷儀都是A型顯示脈沖反射式探傷儀。

3.A型脈沖反射式模擬超聲波探傷儀的一般原理

二． 探頭

超聲波的發(fā)射和接收是通過(guò)探頭來(lái)實(shí)現(xiàn)的。下面介紹探頭的工作原理、主要性能及其及結(jié)構(gòu)。1.壓電效應(yīng)

某些晶體材料在交變拉壓應(yīng)作用下，產(chǎn)生交變電場(chǎng)的效應(yīng)稱為正壓電效應(yīng)。反之當(dāng)晶體材料在交變電場(chǎng)作用下，產(chǎn)生伸縮變形的效應(yīng)稱為逆壓電效應(yīng)。正、逆壓電效應(yīng)統(tǒng)稱為壓電效應(yīng)。

超聲波探頭中的壓電晶片具有壓電效應(yīng)，當(dāng)高頻電脈沖激勵(lì)壓電晶片時(shí)，發(fā)生逆壓電效應(yīng)，將電能轉(zhuǎn)換為聲能(機(jī)械能)，探頭發(fā)射超聲波。當(dāng)探頭接收超聲波時(shí)，發(fā)生正壓電效應(yīng)，將聲能轉(zhuǎn)換為電能。不難看出超聲波探頭在工作時(shí)實(shí)現(xiàn)了電能和聲能的相互轉(zhuǎn)換，因此常把探頭叫做換能器。

2.探頭的種類和結(jié)構(gòu)

直探頭用于發(fā)射和接收縱波，主要用于探測(cè)與探測(cè)面平行的缺陷，如板材、鍛件探傷等。

斜探頭可分為縱波斜探頭、橫波斜探頭和表面波斜探頭，常用的是橫波斜探頭。橫波斜探頭主要用于探測(cè)與探測(cè)面垂直或成一定角度的缺陷，如焊縫、汽輪機(jī)葉輪等。

當(dāng)斜探頭的入射角大于或等于

基本頻率-晶片材料-晶片尺寸-探頭種類-特征

三． 試塊

按一定用途設(shè)計(jì)制作的具有簡(jiǎn)單幾何形狀人工反射體的試樣，通常稱為試塊。試塊和儀器、探頭一樣，是超聲波探傷中的重要工具。

1． 試塊的作用（1）確定探傷靈敏度

超聲波探傷靈敏度太高或太低都不好，太高雜波多，判傷困難，太低會(huì)引起漏檢。因此在超聲波探傷前，常用試塊上某一特定的人工反射體來(lái)調(diào)整探傷靈敏度。（2）測(cè)試探頭的性能

超聲波探傷儀和探頭的一些重要性能，如放大線性、水平線性、動(dòng)態(tài)范圍、靈敏度余量、分辨力、盲區(qū)、探頭的入射點(diǎn)、K值等都是利用試塊來(lái)測(cè)試的。（3）調(diào)整掃描速度

利用試塊可以調(diào)整儀器屏幕上水平刻度

值與實(shí)際聲程之間的比例關(guān)系，即掃描速度，以便對(duì)缺陷進(jìn)行定位。（4）評(píng)判缺陷的大小

利用某些試塊繪出的距離-波幅-當(dāng)量曲線（即實(shí)用AVG）來(lái)對(duì)缺陷定量是目前常用的定量方法之一。特別是3N以內(nèi)的缺陷，采用試塊比較法仍然是最有效的定量方法。此外還可利用試塊來(lái)測(cè)量材料的聲速、衰減性能等。2.試塊的分類（1）按試塊來(lái)歷分為：標(biāo)準(zhǔn)試塊和參考試塊。（2）按試塊上人工反射體分：平底孔試塊、橫孔試塊和槽形試塊 3.試塊的要求和維護(hù)

4.常用試塊簡(jiǎn)介（儀器使用時(shí)重點(diǎn)講解）

IIW(CSK-IA)CS-1 CSK-IIIA

3.動(dòng)態(tài)范圍

動(dòng)態(tài)范圍是指儀器屏幕容納信號(hào)大小的能力。

二． 探頭的性能及其測(cè)試 1.斜探頭入射點(diǎn)

斜探頭的入射點(diǎn)是指其主聲束軸線與探測(cè)面的交點(diǎn)。入射點(diǎn)至探頭前沿的距離稱為探頭的前沿長(zhǎng)度。測(cè)定探頭的入射點(diǎn)和前沿長(zhǎng)度是為了便于對(duì)缺陷定位和測(cè)定探頭的K值。

注意試塊上R應(yīng)大于鋼中近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度N，因?yàn)榻鼒?chǎng)區(qū)同軸線上的聲壓不一定最高，測(cè)試誤差大。

2.斜探頭K值和折射角

斜探頭K值是指被探工件中橫波折射角的正切值。

注意測(cè)定斜探頭的K值或折射角也應(yīng)在近場(chǎng)區(qū)以外進(jìn)行。

3.探頭主聲束偏離和雙峰

探頭實(shí)際主聲束與其理論幾何中心軸線

的偏離程度稱為主聲束的偏離。

平行移動(dòng)探頭，同一反射體產(chǎn)生兩個(gè)波峰的現(xiàn)象稱為雙峰。

探頭主聲束偏離和雙峰，將會(huì)影響對(duì)缺陷的定位和判別。4.探頭聲束特性

探頭聲束特性是指探頭發(fā)射聲束的擴(kuò)散情況，常用軸線上聲壓下降6dB時(shí)探頭移動(dòng)距離（即某處的聲束寬度）來(lái)表示。

三． 儀器和探頭的綜合性能及其測(cè)試 1.靈敏度

超聲波探傷中靈敏度一般是指整個(gè)探傷系統(tǒng)（儀器和探頭）發(fā)現(xiàn)最小缺陷的能力。發(fā)現(xiàn)缺陷愈小，靈敏度就愈高。

儀器的探頭的靈敏度常用靈敏度余量來(lái)衡量。靈敏度余量是指儀器最大輸出時(shí)（增益、發(fā)射強(qiáng)度最大，衰減和抑制為0），使規(guī)定反射體回波達(dá)基準(zhǔn)高所需衰減的衰減總量。靈敏度余量大，說(shuō)明儀器與探頭的靈敏度高。靈敏度余量與儀器和探頭

的綜合性能有關(guān)，因此又叫儀器與探頭的綜合靈敏度。

2.盲區(qū)與始脈沖寬度

盲區(qū)是指從探測(cè)面到能夠發(fā)現(xiàn)缺陷的最小距離。盲區(qū)內(nèi)的缺陷一概不能發(fā)現(xiàn)。始脈沖寬度是指在一定的靈敏度下，屏幕上高度超過(guò)垂直幅度20％時(shí)的始脈沖延續(xù)長(zhǎng)度。始脈沖寬度與靈敏度有關(guān)，靈敏度高，始脈沖寬度大。3.分辨力

儀器與探頭的分辨力是指在屏幕上區(qū)分相鄰兩缺陷的能力。能區(qū)分的相鄰兩缺陷的距離愈小，分辨力就愈高。4.信噪比

信噪比是指屏幕上有用的最小缺陷信號(hào)幅度與無(wú)用的噪聲雜波幅度之比。信噪比高，雜波少，對(duì)探傷有利。信噪比太低，容易引起漏檢或誤判，嚴(yán)重時(shí)甚至無(wú)法進(jìn)行探傷。

發(fā)生變化時(shí)，將改變?cè)嚰墓舱耦l率，依據(jù)試件的共振頻率特性，來(lái)判斷缺陷情況和工件厚度變化情況的方法稱為共振法。共振法常用于試件測(cè)厚。

二． 按波形分類

根據(jù)探傷采用的波形，可分為縱波法、橫波法、表面波法、板波法、爬波法等。1.縱波法

使用直探頭發(fā)射縱波進(jìn)行探傷的方法，稱為縱波法。此時(shí)波束垂直入射至試件探測(cè)面，以不變的波型和方向透入試件，所以又稱為垂直入射法，簡(jiǎn)稱垂直法。垂直法分為單晶探頭反射法、雙晶探頭反射法和穿透法。常用單晶探頭反射法。垂直法主要用于鑄造、鍛壓、軋材及其制品的探傷，該法對(duì)與探測(cè)面平行的缺陷檢出效果最佳。由于盲區(qū)和分辨力的限制，其中反射法只能發(fā)現(xiàn)試件內(nèi)部離探測(cè)面一定距離以外的缺陷。

在同一介質(zhì)中傳播時(shí)，縱波速度大于其

它波型的速度，穿透能力強(qiáng)，晶界反射或散射的敏感性較差，所以可探測(cè)工件的厚度是所有波型中最大的，而且可用于粗晶材料的探傷。2.橫波法

將縱波通過(guò)楔塊、水等介質(zhì)傾斜入射至試件探測(cè)面，利用波型轉(zhuǎn)換得到橫波進(jìn)行探傷的方法，稱為橫波法。由于透入試件的橫波束與探測(cè)面成銳角，所以又稱斜射法。

此方法主要用于管材、焊縫的探傷；其它試件探傷時(shí)，則作為一種有效的輔助手段，用以發(fā)現(xiàn)垂直法不易發(fā)現(xiàn)的缺陷。3.表面波法

使用表面波進(jìn)行探傷的方法，稱為表面波法。這種方法主要用于表面光滑的試件。表面波波長(zhǎng)很短，衰減很大。同時(shí)，它僅沿表面?zhèn)鞑?，?duì)于表面上的復(fù)層、油污、不光潔等，反應(yīng)敏感，并被大量地衰減。利用此特點(diǎn)可通過(guò)手沾油在聲束傳播方向上進(jìn)行觸摸并觀察缺陷回波高度的

變化，對(duì)缺陷定位。4.板波法

使用板波進(jìn)行探傷的方法，稱為板波法。主要用于薄板、薄壁管等形狀簡(jiǎn)單的試件探傷。探傷時(shí)板波充塞于整個(gè)試件，可以發(fā)現(xiàn)內(nèi)部和表面的缺陷。5.爬波法

三． 按探頭數(shù)目分類 1.單探頭法

使用一個(gè)探頭兼作發(fā)射和接收超聲波的探傷方法稱為單探頭法，單探頭法最常用。

2.雙探頭法

使用兩個(gè)探頭（一個(gè)發(fā)射，一個(gè)接收）進(jìn)行探傷的方法稱為雙探頭法，主要用于發(fā)現(xiàn)單探頭難以檢出的缺陷 3.多探頭法

使用兩個(gè)以上的探頭成對(duì)地組合在一起進(jìn)行探傷的方法，稱為多探頭法。

四． 按探頭接觸方式分類 1.直接接觸法

探頭與試件探測(cè)面之間，涂有很薄的耦合劑層，因此可以看作為兩者直接接觸，此法稱為直接接觸法。

此法操作方便，探傷圖形較簡(jiǎn)單，判斷容易，檢出缺陷靈敏度高，是實(shí)際探傷中用得最多的方法。但對(duì)被測(cè)試件探測(cè)面的粗糙度要求較高。2.液浸法

將探頭和工件浸于液體中以液體作耦合劑進(jìn)行探傷的方法，稱為液浸法。耦合劑可以是油，也可以是水。

液浸法適用于表面粗糙的試件，探頭也不易磨損，耦合穩(wěn)定，探測(cè)結(jié)果重復(fù)性好，便于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化探傷。

液浸法分為全浸沒(méi)式和局部浸沒(méi)式。

超聲波探傷中，超聲波的發(fā)射和接收都是通過(guò)探頭來(lái)實(shí)現(xiàn)的。探頭的種類很多，結(jié)構(gòu)型式也不一樣。探傷前應(yīng)根據(jù)被檢對(duì)象的形狀、衰減和技術(shù)要求來(lái)選擇探頭，探頭的選擇包括探頭型式、頻率、晶片尺寸和斜探頭K值的選擇等。1.探頭型式的選擇

常用的探頭型式有縱波直探頭、橫波斜探頭、表面波探頭、雙晶探頭，聚焦探頭等。一般根據(jù)工件的形狀和可能出現(xiàn)缺陷的部位、方向等條件來(lái)選擇探頭的型式，使聲束軸線盡量與缺陷垂直。

縱波直探頭波束軸線垂直于探測(cè)面，主要用于探測(cè)與探測(cè)面平行的缺陷，如鍛件、鋼板中的夾層、折疊等缺陷。

橫波斜探頭主要用于探測(cè)與探測(cè)面垂直可成一定角度的缺陷，如焊縫中未焊透、夾渣、未溶合等缺陷。

表面波探頭用于探測(cè)工件表面缺陷，雙晶探頭用于探測(cè)工件近表面缺陷，聚焦探頭用于水浸探測(cè)管材或板材。

2.探頭頻率的選擇。

超聲波探傷頻率0.5~10MHz之間，選擇范圍大。一般選擇頻率時(shí)應(yīng)考慮以下因素:(1)由于波的繞射，使超聲波探傷靈敏度約為波長(zhǎng)的一半，因此提高頻率，有利于發(fā)現(xiàn)更小的缺陷。

(2)頻率高，脈沖寬度小，分辨力高，有利于區(qū)分相鄰缺陷。

(3)頻率高，波長(zhǎng)短，則半擴(kuò)散角小，聲束指向性好，能量集中，有利于發(fā)現(xiàn)缺陷并對(duì)缺陷定位。

(4)頻率高，波長(zhǎng)短，近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度大，對(duì)探傷不利。

(5)頻率增加，衰減急劇增加。

由以上分析可知，頻率的高低對(duì)探傷有較大的影響，頻率高，靈敏度和分辨力高，指向性好，對(duì)探傷有利；但近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度大，衰減大，又對(duì)探傷不利。實(shí)際探傷中要全面分析考慮各方面的因素，合理選擇頻率。一般在保證探傷靈敏度的前提下盡可

能選用較低的頻率。

對(duì)于晶粒較細(xì)的鍛件、軋制件和焊接件等，一般選用較高的頻率，常用2.5~5MHz；對(duì)晶粒較粗大的鑄件、奧氏體鋼等宜選用較低的頻率，常用0.5~2.5MHz。如果頻率過(guò)高，就會(huì)引起嚴(yán)重衰減，屏幕上出現(xiàn)林狀回波，信噪比下降，甚至無(wú)法探傷。3.探頭晶片尺寸的選擇

晶片尺寸對(duì)探傷也有一定的影響，選擇晶片尺寸進(jìn)要考慮以下因素：（1）晶片尺寸增加，半擴(kuò)散角減少，波束指向性變好，超聲波能量集中，對(duì)探傷有利。（2）晶片尺寸增加，近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度迅速增加，對(duì)探傷不利。（3）晶片尺寸大，輻射的超聲波能量大，探頭未擴(kuò)散區(qū)掃查范圍大，遠(yuǎn)距離掃查范圍相對(duì)變小，發(fā)現(xiàn)遠(yuǎn)距離缺陷能力增強(qiáng)。

以上分析說(shuō)明晶片大小對(duì)聲束指向性、近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度、近距離掃查范圍和遠(yuǎn)距離缺

陷檢出能力有較大的影響。實(shí)際探傷中，探傷面積范圍大的工件時(shí)，為了提高探傷效率宜選用大晶片探頭；探傷厚度大的工件時(shí)，為了有效地發(fā)現(xiàn)遠(yuǎn)距離的缺陷宜選用大晶片探頭；探傷小型工件時(shí)，為了提高缺陷定位定量精度宜選用小晶片探頭；探傷表面不太平整，曲率較低較大的工件時(shí)，為了減少耦合損失宜選用小晶片探頭。

4.橫波斜頭K值的選擇

在橫波探傷中，探頭的K值對(duì)探傷靈敏度、聲束軸線的方向，一次波的聲程（入射點(diǎn)至底面反射點(diǎn)的距離）有較大的影響。K值大，一次波的聲程大。因此在實(shí)際探傷中，當(dāng)工件厚度較小時(shí)，應(yīng)選用較大的K值，以便增加一次波的聲程，避免近場(chǎng)區(qū)探傷；當(dāng)工件厚度較大時(shí)，應(yīng)選用較小的K值，以減少聲程過(guò)大引起的衰減，便于發(fā)現(xiàn)深度較大處的缺陷。在焊縫探傷中，不要保證主聲束能掃查整個(gè)焊縫截面；對(duì)于單面焊根未焊透，還要考慮端角

反射問(wèn)題，應(yīng)使K=0.7~1.5,因?yàn)镵<0.7或K>1.5，端角反射很低，容易引起漏檢。

三． 耦合

超聲耦合是指超聲波在探測(cè)面上的聲強(qiáng)透射率。聲強(qiáng)透射率高，超聲耦合好。為提高耦合效果，在探頭與工件表面之間施加的一層透聲介質(zhì)稱為而耦合劑。耦合劑的作用在于排除探頭與工件表面之間的空氣，使超聲波能有效地傳入工件，達(dá)到探傷的目的；耦合劑還有減少磨擦的作用。

影響聲耦合的主要因素有：耦合層的厚度，耦合劑的聲阻抗，工件表面粗糙度和工件表面形狀。

四． 表面耦合損耗的補(bǔ)償

在實(shí)際探傷中，當(dāng)調(diào)節(jié)探傷靈敏度用的試塊與工件表面粗糙度、曲率半徑不同時(shí)，往往由于工件耦合損耗大而使探傷靈敏度降低，為了彌補(bǔ)耦合損耗，必須增大儀器的輸出來(lái)進(jìn)行補(bǔ)償。

塊來(lái)調(diào)節(jié)，如用CSK-IA試塊?50或?1.5的孔。

三． 定量調(diào)節(jié)

定量調(diào)節(jié)一般采用AVG（直探頭）或DAC（斜探頭）。

四． 缺陷定位

超聲波探傷中測(cè)定缺陷位置簡(jiǎn)稱缺陷定位。

1.縱波（直探頭）定位

縱波定位較簡(jiǎn)單，如探頭波束軸線不偏離，缺陷波在屏幕上位置即是缺陷至探頭在垂直方向的距離。2.表面波定位

表面波探傷定位與縱波定位基本類似，只是缺陷位于工件表面，缺陷波在屏幕上位置是缺陷至探頭在水平方向的距離（此時(shí)要考慮探頭前沿）。3.橫波定位

橫波斜探頭探傷定位由缺陷的聲程和探

頭的折射角或缺陷的水平和垂直方向的投影來(lái)確定。

4.橫波周向探測(cè)圓柱面時(shí)缺陷定位 周向探傷時(shí)，缺陷定位與平面探傷不同。（1）外圓探傷周向探測(cè)（2）內(nèi)壁周向探測(cè)

當(dāng)量試塊比較法是將工件中的自然缺陷回波與試塊上的人工缺陷回波進(jìn)行比較來(lái)對(duì)缺陷定量的方法。此法的優(yōu)點(diǎn)是直觀易懂，當(dāng)量概念明確，定量比較穩(wěn)妥可靠。但成本高，操作也較煩瑣，很不方便。所以此法應(yīng)用不多，僅在x<3N的情況下或特別重要零件的精確定量時(shí)應(yīng)用。2.當(dāng)量計(jì)算法 當(dāng)x>3N時(shí)，規(guī)則反射體的回波聲壓變化規(guī)律基本符合理論回波聲壓公式，當(dāng)量計(jì)算法就是根據(jù)探傷中測(cè)得的缺陷波高的dB值，利用各種規(guī)則反射體的理論回波聲壓公式進(jìn)行計(jì)算來(lái)確定缺陷當(dāng)量尺寸的定量方法。

3.當(dāng)量AVG曲線法

當(dāng)量AVG曲線法是利用AVG曲線來(lái)確定工件中缺陷的當(dāng)量尺寸。

二． 測(cè)長(zhǎng)法測(cè)缺陷大小

當(dāng)工件中缺陷尺寸大于聲束截面時(shí)，一

般采用測(cè)長(zhǎng)法來(lái)確定缺陷的長(zhǎng)度。

測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)缺陷波高與探頭移動(dòng)距離來(lái)確定缺陷的尺寸，按規(guī)定的方法測(cè)定的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的指示長(zhǎng)度。由于實(shí)際工件中缺陷的取向、性質(zhì)、表面狀態(tài)等都會(huì)影響缺陷回波高度，因此缺陷的指示長(zhǎng)度總是小于或等于缺陷的實(shí)際長(zhǎng)度。根據(jù)測(cè)定缺陷長(zhǎng)度時(shí)的基準(zhǔn)不同將測(cè)長(zhǎng)法分為相對(duì)靈敏度法、絕對(duì)靈敏度法和端點(diǎn)峰值法。

三． 底波高度法測(cè)缺陷大小

底波高度法是利用缺陷波與底波的相對(duì)波高來(lái)衡量缺陷的相對(duì)大小。當(dāng)工件中存在缺陷時(shí)，由于缺陷的反射，使工件底波下降。缺陷愈大，缺陷波愈高，底波就愈低，缺陷波高與底波高之比就愈大。四． 缺陷測(cè)高

及其它

目前A型脈沖反射式超聲波探傷儀是根據(jù)屏幕上缺陷波的位置和高度來(lái)評(píng)價(jià)被檢工件中缺陷的位置和大小，了解影響因素，對(duì)于提高定位、定量精度是十分有益的。

一．影響缺陷定位的主要因素 1.儀器的影響

儀器的水平線性的好壞對(duì)缺陷定位有一定的影響。2.探頭的影響

探頭的聲束偏離、雙峰、斜楔磨損、指向性等影響缺陷定位。3.工件的影響

工件的表面粗糙度、材質(zhì)、表面形狀、邊界影響、溫度及缺陷情況等影響缺陷定位。

4.操作人員的影響

儀器調(diào)試時(shí)零點(diǎn)、K值等參數(shù)存在誤差或定位方法不當(dāng)影響缺陷定位

二．影響缺陷定量的主要因素 1.儀器及探頭性能的影響

儀器的垂直線性、精度及探頭頻率、型式、晶片尺寸、折射角大小等都直接影響缺陷回波高度。

2.耦合與衰減的影響

耦合劑的聲阻抗和耦合層厚度對(duì)回波高有較大的影響；當(dāng)探頭與調(diào)靈敏度用的試塊和被探工件表面耦合狀態(tài)不同時(shí)，而又沒(méi)有進(jìn)行恰當(dāng)?shù)难a(bǔ)償，也會(huì)使定量誤差增加，精度下降。

由于超聲波在工件中存在衰減，當(dāng)衰減系數(shù)較大或距離較大時(shí)，由此引起的衰減也較大，如不考慮介質(zhì)衰減補(bǔ)償，定量精度勢(shì)必受到影響。因此在探傷晶粒較粗大和大型工件時(shí)，應(yīng)測(cè)定材質(zhì)的衰減系數(shù)，并在定量計(jì)算時(shí)考慮介質(zhì)衰減的影響，以便減少定量誤差。

3.工件幾何形狀和尺寸的影響

工件底面形狀不同，回波高度不一樣，凸曲面使反射波發(fā)散，回波降低，凹曲面

使反射波聚焦，回波升高；工件底面與探測(cè)面的平行度以及底面的光潔度、干凈程度也對(duì)缺陷定量有較大的影響；由于側(cè)壁干涉的原因，當(dāng)探測(cè)工件側(cè)壁附近的缺陷時(shí)，會(huì)產(chǎn)生定量不準(zhǔn)，誤差增加；工件尺寸的大小對(duì)定量也有一定的影響。

為減少側(cè)壁的影響，宜選用頻率高、晶片尺寸大且指向性好的探頭探測(cè)或橫波探測(cè)；必要時(shí)不可采用試塊比較法來(lái)定量。

4.缺陷的影響

不同的缺陷形狀對(duì)其回波高度有很大的影響，缺陷方位也會(huì)影響到回波高度，另外缺陷波的指向性與缺陷大小有關(guān)，而且差別較大；另外缺陷回波高度還與缺陷表面粗糙度、缺陷性質(zhì)、缺陷位置等有影響。

三．缺陷性質(zhì)分析

超聲波探傷還應(yīng)盡可能判定缺陷的性質(zhì)，不同性質(zhì)的缺陷危害程度不同，例如裂紋就比氣孔、夾渣大得多。但缺陷定性

第三篇：超聲波探傷通用作業(yè)指導(dǎo)書

超聲波探傷通用作業(yè)指導(dǎo)書

一、適用范圍

超聲檢測(cè)適用場(chǎng)內(nèi)球鐵鑄件的檢測(cè)。

二

引用標(biāo)準(zhǔn)

EN 12680-3:2003 鑄造 超聲檢測(cè) 第三部分：球墨鑄鐵件

三、檢測(cè)范圍

就鑄件檢測(cè)部位問(wèn)題與客戶達(dá)成協(xié)議或技術(shù)部指定。需要闡明如何對(duì)這些部位進(jìn)行檢驗(yàn)，既采用點(diǎn)式還是掃描檢驗(yàn)方法，還要說(shuō)明從哪個(gè)方向進(jìn)行檢驗(yàn)。

四

一般要求

1、超聲檢測(cè)人員應(yīng)具有一定的基礎(chǔ)知識(shí)和探傷經(jīng)驗(yàn)。并經(jīng)考核取得有關(guān)部門認(rèn)可的資格證書。

2、探傷儀

①量程設(shè)定，對(duì)于在鋼材中傳導(dǎo)的叢波和橫波來(lái)說(shuō)，至少保證在10mm到2m的范圍內(nèi)可以在量程中進(jìn)行連續(xù)選擇。

②增益，至少保證在80分貝范圍內(nèi)，測(cè)量精度為1分貝，超過(guò)80分貝，最大單位間距可為2分貝。

③時(shí)基線性和垂直線性小于屏幕調(diào)整范圍的5%。

④至少適用于單晶片探頭和雙晶片探頭脈沖回波技術(shù)中標(biāo)稱頻率在0.5MHz到5MHz（包括5MHz）的范圍。

3、探頭

① 縱波直探頭的晶片直徑應(yīng)在10~30mm之間，工作頻率1~5MHz，誤差不得超過(guò)±10%。

② 橫波斜探頭的晶片面積應(yīng)在100~400mm2之間，K值一般取1~3.③ 縱波雙晶直探頭晶片之間的聲絕緣必須良好。

3、儀器系統(tǒng)的性能

① 在達(dá)到所探工件的最大檢測(cè)聲程時(shí)，其有效靈敏度余量不得小于10dB。

② 儀器與探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于±10%。

③ 儀器與直探頭組合的始脈沖寬度（在基準(zhǔn)靈敏度下）：對(duì)于頻率為5MHz的探頭，寬度不大于10mm；對(duì)于頻率為2.5MHz的探頭，寬度不大于15mm。

④ 直探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于30dB，斜探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于6dB。

五、探傷時(shí)機(jī)及準(zhǔn)備工作

1、工件要集中到指定的位置。

2、工件在外觀檢查合格后方可進(jìn)行超聲探傷，所有影響超聲探傷的油污及其他附著物應(yīng)予以清除。

3、探傷面的表面粗糙度Ra為6.3μm。

六 探傷方法

1、為確保檢測(cè)時(shí)超聲波聲束能掃查到工件的整個(gè)被檢區(qū)域，探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15%。探頭的掃查速度不應(yīng)超過(guò)150mm/s。耦合劑應(yīng)透聲性好，且不損傷檢測(cè)表面，如機(jī)油，漿糊，甘油和水等。

2、靈敏度補(bǔ)償

① 耦合補(bǔ)償 在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由表面粗糙度引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償。

② 衰減補(bǔ)償 在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)材質(zhì)衰減引起的檢測(cè)靈敏度下降和缺陷定量誤差進(jìn)行補(bǔ)償。

③ 曲面補(bǔ)償 對(duì)探測(cè)面是曲面的工件，應(yīng)采用曲率半徑與工件相同或相近的試塊，通過(guò)對(duì)比實(shí)驗(yàn)進(jìn)行曲率補(bǔ)償。

六、系統(tǒng)校準(zhǔn)與復(fù)核

1、一般要求

系統(tǒng)校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，校準(zhǔn)中應(yīng)使探頭主聲束對(duì)準(zhǔn)反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定和最大的反射信號(hào)。

2、新購(gòu)探頭測(cè)定

新購(gòu)探頭應(yīng)有探頭性能參數(shù)說(shuō)明書，新探頭使用前應(yīng)進(jìn)行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等主要參數(shù)的測(cè)定。

3、檢測(cè)前儀器和探頭系統(tǒng)測(cè)定

使用儀器----斜探頭系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定前沿距離、K值和主聲束偏離，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。

使用儀器----直探頭系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃查量程和掃查靈敏度。

4、檢測(cè)過(guò)程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核

遇到下述情況應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核：

① 校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí)；

② 檢測(cè)人員懷疑掃描量程或掃描靈敏度有變化時(shí)；

③ 連續(xù)工作4h以上時(shí)；

④ 工作結(jié)束時(shí)。

5、檢測(cè)結(jié)束前儀器與探頭系統(tǒng)的復(fù)核

每次檢測(cè)結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃描量程進(jìn)行復(fù)核。如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過(guò)掃描線讀數(shù)的10%，則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢。

每次掃描結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核。一般對(duì)距離-波幅曲線的校核不應(yīng)少與3點(diǎn)。如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降2dB，則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dB，則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。

6、校準(zhǔn)、復(fù)核的有關(guān)注意事項(xiàng)

校準(zhǔn)、復(fù)核和對(duì)儀器進(jìn)行線性檢測(cè)時(shí)，任何影響儀器線性的控制器（如抑制或?yàn)V波開關(guān)等）都應(yīng)放在“關(guān)”的位置或處于最低水平上。

七、探傷方法

1、探測(cè)方向

一般在探測(cè)面上兩相互垂直的方向上進(jìn)行并盡量掃查到工件的整個(gè)體積

3、探傷靈敏度的確定

① 縱波直探頭探傷靈敏度的確定

當(dāng)被探部位的厚度不大于探頭的3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，一般選用底波確定探傷靈敏度。由于幾何形狀所限，不能獲得底波者或是探測(cè)厚度大于45mm而小于3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，可直接采用試塊法確定探傷靈敏度。

② 縱波雙晶直探頭靈敏度的確定

按需要選擇不同直徑平底孔的試塊，并測(cè)試一組不同探測(cè)距離的平底孔。調(diào)節(jié)衰減器，使其中最高的回波幅度達(dá)到滿刻度的80%。不改變儀器的參數(shù)，測(cè)出其他平底孔回波的最高點(diǎn)，將其標(biāo)定在熒光屏上，連接這些點(diǎn)，即是對(duì)應(yīng)于不同平底孔的縱波雙晶直探頭的距離——波幅曲線。

4、補(bǔ)償

① 表面粗糙度補(bǔ)償

在探傷和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由表面粗糙度引起的能量消耗進(jìn)行補(bǔ)償。

② 曲面補(bǔ)償

對(duì)于探測(cè)面是曲面的工作，可采用曲率與工件相同或相近（0.9~1.5倍）的參考試塊，否則應(yīng)補(bǔ)償因曲率不同引起的聲能損失。

③ 探傷靈敏度一般不低于工件最大探測(cè)距離出的φ2mm平底孔當(dāng)量。

5、探傷靈敏度的復(fù)查

探傷中應(yīng)檢查探傷靈敏度，發(fā)現(xiàn)探傷靈敏度有改變時(shí)應(yīng)重新調(diào)整。當(dāng)增益電平降低2dB以上時(shí)，應(yīng)對(duì)上一次校準(zhǔn)以來(lái)所檢查的工件進(jìn)行復(fù)探；當(dāng)增益電平升高2dB以上時(shí)，應(yīng)對(duì)所有缺陷進(jìn)行重新定量。

八、缺陷記錄

① 記錄當(dāng)量平底孔徑超過(guò)φ4mm的單個(gè)缺陷的位置和波幅。

②

記錄當(dāng)量平底孔直徑超過(guò)φ2mm的缺陷密集區(qū)及其最大缺陷的位置和分布，缺陷密集區(qū)面積以12mm×12mm的方塊作為最小度量單位。③

記錄由缺陷引起的底面回波降低區(qū)域和數(shù)值。

④ 不屬于上述情況，但探傷人員能判定是否危害性的缺陷也予以記錄。

九、探傷報(bào)告

探傷報(bào)告應(yīng)包括下述內(nèi)容：

1、委托探傷的單位，探傷報(bào)告編號(hào)，簽發(fā)日期。

2、鑄件的名稱、編號(hào)、材料牌號(hào)、探傷面的表面粗糙情況。

3、探傷儀的型號(hào)、探頭型號(hào)、探傷頻率、耦合劑、探傷靈敏度和掃查方式。

4、在草圖上標(biāo)明檢測(cè)區(qū)域，如有因幾何形狀限制而檢測(cè)不到的部位也必須在草圖上標(biāo)明。

5、缺陷的類型、尺寸和位置。

6、探傷等級(jí)和探傷結(jié)論。

7、探傷人員和審核人員簽字。

第四篇：超聲波探傷作業(yè)指導(dǎo)書

超聲波探傷作業(yè)指導(dǎo)書 適用范圍

本作業(yè)指導(dǎo)書適用于母材厚度不小于8mm的鐵素體類鋼全焊透熔化焊對(duì)接焊縫脈沖反射法手工超聲波檢驗(yàn)。不適用于鑄鋼及奧氏體不銹鋼焊接，外徑小于159mm鋼管對(duì)接焊縫，內(nèi)徑小于等于200mm的管座角焊縫及外徑小于250mm和內(nèi)徑小于80％的縱向焊縫。2 引用標(biāo)準(zhǔn)

JB4730-94《壓力容器無(wú)損檢測(cè)》

GBll345-89《鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果分級(jí)法》 GB50205-2001《鋼結(jié)構(gòu)工程施工質(zhì)量驗(yàn)收規(guī)范》 3 試驗(yàn)項(xiàng)目及質(zhì)量要求

3.1 試驗(yàn)項(xiàng)目：內(nèi)部缺陷超聲波探傷。3.2 質(zhì)量要求 3.2.1 檢驗(yàn)等級(jí)的分級(jí)

根據(jù)質(zhì)量要求檢驗(yàn)等級(jí)分A、B、C三級(jí)，檢驗(yàn)的完善程度A級(jí)最低，B級(jí)一般，C級(jí)最高。檢驗(yàn)工作的難度系數(shù)按A、B、C順序逐級(jí)增高，應(yīng)按照工種2的材質(zhì)、結(jié)構(gòu)、焊接方法，使用條件及承受荷載的不同，合理的選用檢驗(yàn)級(jí)別。檢驗(yàn)等級(jí)應(yīng)按產(chǎn)品的技術(shù)條件和有關(guān)規(guī)定選擇或經(jīng)合同雙方協(xié)商選定。3.2.2 焊縫質(zhì)量等級(jí)及缺陷分級(jí) 表3.2.2 焊縫質(zhì)量等級(jí)

一級(jí)

評(píng)定等級(jí) 檢驗(yàn)等級(jí) 探傷比例

II B級(jí) 100%

二級(jí) III B級(jí) 20% 內(nèi)部缺陷 超聲波探傷

3.2.3 探傷比例的計(jì)數(shù)方法

探傷比例的計(jì)數(shù)方法應(yīng)按以下原則確定：①對(duì)工廠制作焊縫，應(yīng)按每條焊縫計(jì)算百分比，且探傷長(zhǎng)度不應(yīng)小于200mm，當(dāng)焊縫長(zhǎng)度不足200mm時(shí)，應(yīng)對(duì)整條焊縫進(jìn)行探傷；②對(duì)現(xiàn)場(chǎng)安裝焊縫，應(yīng)按同一類型，同一施焊條件的焊縫條數(shù)計(jì)算百分比，探傷長(zhǎng)度應(yīng)不小于200mm，并應(yīng)不少于l條焊縫。3.2.4 檢驗(yàn)區(qū)域的選擇

3.2.4.1 超聲波檢測(cè)應(yīng)在焊縫及探傷表面經(jīng)外觀檢查合格后方可進(jìn)行，應(yīng)劃好檢驗(yàn)區(qū)域，標(biāo)出檢驗(yàn)區(qū)段編號(hào)。

3.2.4.2 檢驗(yàn)區(qū)域的寬度應(yīng)是焊縫本身再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度30％的一般區(qū)哉，這區(qū)域最小10mm，最大20m。3.2.4.3 接頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其它外部雜質(zhì)。探傷區(qū)域表面應(yīng)平整光滑，便于探頭的自由掃查，其表面粗糙度不應(yīng)超過(guò)6.3um，必要時(shí)進(jìn)行打磨。a、采用一次反射法或串列式掃查探傷時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)大于2.5δk，(其中，δ為板厚，k為探頭值)；b、采用直射法探傷時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)域應(yīng)大于1.5δk。

3.2.4.4 去除余高的焊接，應(yīng)將余高打磨到與臨鄰近母材平齊。保留余高焊縫，如焊縫表面有咬邊，較大的隆起和凹陷等也應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)修磨，并做圓滑過(guò)渡以免影響檢驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定。3.2.5 檢驗(yàn)頻率

檢驗(yàn)頻率f一般在2-5MHZ的范圍內(nèi)選擇，推薦選用2—2.5MHZ區(qū)稱頻率檢驗(yàn)，特殊情況下，可選用低于2MHZ區(qū)或高于2.5MHZ的檢驗(yàn)頻率，但必須保證系統(tǒng)靈敏度的要求。3.2.6 檢驗(yàn)等級(jí)，探傷面及使用k值(折射角)見表3.2.6 表3.2.6

板厚mm 探傷面 A 單面單 側(cè)

B

C

探傷法

使用折射角或k值

直射法及一 次性反射法 直射法

70°(k2.5、k2.o)70°或60°(k2.5、k2.o、k1.5)45°或60°;45°和60°，≤25 >25—50

單面雙側(cè)或 雙面單側(cè)

45°和70°并用(k1.o或k1.5，>50—100 >100 ／

(k1.o和k1..5，k1．0和k2．O并用)

／

雙面雙側(cè)

45°和60°并用(k1．0和k1．5或k2．O)儀器、試塊、耦合劑、探頭

4.1 儀器CTS-2000筆記本式數(shù)據(jù)超聲波探傷儀 4.2 試塊 CSK-IA 試塊 CSK-ⅡA 試塊 4.3 耦合劑

應(yīng)選用適當(dāng)?shù)囊后w或模糊狀物作耦合劑。耦合劑應(yīng)具備有良好透聲性和適宜流動(dòng)性，不應(yīng)對(duì)材料和人體有損傷作用。同時(shí)應(yīng)便于檢驗(yàn)后清理。典型耦合劑為水、機(jī)油、甘油和漿糊。在試塊上調(diào)節(jié)儀器和產(chǎn)品檢驗(yàn)應(yīng)采用相同的耦合劑。4.4 探頭：斜探頭、直探頭 5 儀器的調(diào)整的校驗(yàn) 5.1 基線掃描的調(diào)節(jié)

熒光屏?xí)r基線刻度可按比例調(diào)節(jié)為代表缺陷的水平距離ι，深度h或聲程S。

5.1.1 探傷面為平面時(shí)，可在對(duì)比試塊上進(jìn)行時(shí)基線掃描調(diào)節(jié)，掃描比例依據(jù)工作厚度和選用的探頭角度來(lái)確定，最大檢驗(yàn)范圍應(yīng)調(diào)到時(shí)基線滿刻度的2／3以上。

5.1.2 探傷面曲率半徑R大于W2／4時(shí)，可在平面對(duì)比試塊上或探傷面曲率相近的曲面對(duì)比試塊上，進(jìn)行時(shí)基線掃描調(diào)節(jié)。5.1.3 探傷面曲面半徑R小于等于W2／4時(shí)，探頭楔塊應(yīng)磨成與工件曲面相吻合，按GBll345-89第6.2.3條在對(duì)比試塊上作時(shí)基線掃描調(diào)節(jié)。

5.2 距離一波幅(DAC)曲線的繪制

5.2.1 距離一波幅曲線由選用的儀器、探頭系統(tǒng)在對(duì)比試塊上實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)繪制，曲線由判廢線、定量線、評(píng)定線組成，不同驗(yàn)收級(jí)別各線靈敏度見表5.2.1 表中DAC是以上φ2mm標(biāo)準(zhǔn)反射體繪制的距離一波副曲線，即DAC基準(zhǔn)線。評(píng)定線以上定量線以下為I區(qū)，定量線至判廢線以下的Ⅱ區(qū)，判廢線及以上區(qū)域?yàn)棰髤^(qū)(判廢區(qū))距離——波幅曲線的靈敏度 表5.2.1

級(jí)別 板厚mm DAC 判廢線 定量線 評(píng)定線

DAC-4dB DAC-12dB DAC-18dB

DAC+2dB DAC-8dB DAC-14dB

DAC DAC-6dB DAC-12dB

A

B

C

8—46 >46-120 >46-120

5.2.2 探測(cè)橫向缺陷時(shí)，應(yīng)將各線靈敏度均提高6dB。

5.2.3 探傷面曲率半徑R小于等于W2／4時(shí)，距離一波幅曲線的繪制應(yīng)在曲線面對(duì)比試塊上進(jìn)行。

5.2.4 受檢工件的表面耦合損失及材質(zhì)衰減應(yīng)與試塊相同，否則應(yīng)進(jìn)行傳輸損失修整，在1跨距聲程內(nèi)最大傳輸損差在2dB以內(nèi)可不進(jìn)行修整。

5.2.5 距離一波幅曲線可繪制在坐標(biāo)紙上，也可直接繪制在熒光屏刻板上。5.3 儀器調(diào)整的校驗(yàn)

5.3.1 每次檢驗(yàn)前應(yīng)在對(duì)比試塊上，對(duì)時(shí)基線掃描比例和距離一波幅曲線<靈敏度>進(jìn)行調(diào)整或校驗(yàn)。校驗(yàn)點(diǎn)不少于兩點(diǎn)。5.3.2 在檢驗(yàn)過(guò)程中每4h之內(nèi)檢驗(yàn)工作結(jié)束后應(yīng)對(duì)時(shí)基線掃描和靈敏度進(jìn)行校驗(yàn)，校驗(yàn)可在對(duì)比試塊或其他等效試塊上進(jìn)行。

5.3.3 掃描調(diào)節(jié)校驗(yàn)時(shí)，如發(fā)現(xiàn)校驗(yàn)點(diǎn)反射波在掃描線上偏移超過(guò)原校驗(yàn)點(diǎn)刻度讀數(shù)的10％或滿刻度5％(兩者取較小值)，則掃描比例應(yīng)重新調(diào)整，前次校驗(yàn)后已經(jīng)記錄的缺點(diǎn)，位置參數(shù)應(yīng)重新測(cè)定，并予以更正。

5.3.4 靈敏度校驗(yàn)時(shí)，如校驗(yàn)點(diǎn)的反射波幅比距離一波幅曲線降低20％或2dB以上，則儀器靈敏度應(yīng)重新調(diào)整，而前次校驗(yàn)后，已經(jīng)記錄的缺陷，應(yīng)對(duì)缺陷尺寸參數(shù)重新測(cè)定并予以評(píng)定。6 初始檢驗(yàn) 6.1 一般要求

6.1.1 超聲檢驗(yàn)應(yīng)在焊縫及探傷表面經(jīng)外觀檢查合格并滿足GBll345-89第8.1.3條的要求后方可進(jìn)行。

6.1.2 檢驗(yàn)前，探傷人員應(yīng)了解受檢工件的材質(zhì)、結(jié)構(gòu)、曲率、厚度、焊接方法、焊縫種類、坡口形式、焊縫余高及背面襯墊、溝槽等情況。

6.1.3 探傷靈敏度應(yīng)不低于評(píng)定線靈敏度。

6.1.4 掃查速度不應(yīng)大于150mm／S，相鄰兩次探頭移動(dòng)間隔保證至少有探頭寬度10％的重疊。

6.1.5 對(duì)波幅超過(guò)評(píng)定線的反射波，應(yīng)根據(jù)探頭位置、方向、反射波的位置及6.1.2條了解焊縫情況，判斷其是否為缺陷。判斷缺陷的部位在焊縫表面作出標(biāo)記。6.2平板對(duì)接焊縫的檢驗(yàn)

6.2.1 為探測(cè)縱向缺陷，斜探頭垂直于焊縫中心線放置在探傷面上，作鋸齒型掃查。探頭前后移動(dòng)的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊縫截面及熱影響區(qū)。在保持垂直焊縫作前后移動(dòng)的同時(shí)，還應(yīng)作10°～15°左右移動(dòng)。

6.2.2 為探測(cè)焊縫及熱影響區(qū)的橫向缺陷應(yīng)進(jìn)行平行和斜平行掃查。B級(jí)檢驗(yàn)時(shí)，可在焊縫兩側(cè)邊緣使探頭與焊縫中心線成10°～20°斜平行掃查。C級(jí)檢驗(yàn)時(shí)，可將探頭放在焊縫及熱影響區(qū)上作兩方向的平行掃查，焊縫母材厚度超過(guò)lOOmm時(shí)，應(yīng)在焊縫的兩面作平行掃查或者采用兩種角度探頭(45°和60°或45°和70°并用)作單位兩個(gè)方向平行掃查，亦可用兩個(gè)45°探頭作串列式平行掃查。對(duì)電渣焊縫還應(yīng)增加與焊縫中心線45°的斜想向掃查。

6.2.3 為確定缺陷的位置、方向、形狀、觀察缺陷動(dòng)態(tài)波形或區(qū)分缺陷訊號(hào)與偽訊號(hào)，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式。6.3 曲面工作對(duì)接焊縫的檢驗(yàn)

6.3.1 探傷面為曲面時(shí)，按規(guī)定選用對(duì)比試塊，并采用6.2條的方法進(jìn)行檢驗(yàn)。C級(jí)檢驗(yàn)時(shí)，受工件幾何形狀限制，橫向缺陷探測(cè)無(wú)法實(shí)施時(shí)，應(yīng)在檢驗(yàn)記錄中予以注明。

6.3.2 環(huán)縫檢驗(yàn)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑為探傷面曲率0.9-1.5倍的對(duì)比試塊，均可采用，對(duì)比試塊的采用。探測(cè)橫向缺陷時(shí)按6.3.3條的方法進(jìn)行。

6.3.3 縱縫檢驗(yàn)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑與探傷面曲率半徑之差應(yīng)小于10％。

6.3.3.1 根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭角度，并考慮幾何臨界角的限制，確保聲束能掃查到整個(gè)焊縫厚度；條件允許時(shí)，聲束在曲底面的入射角度不應(yīng)超過(guò)70°。

6.3.3.2 探頭接觸面修磨后，應(yīng)注意探頭入射點(diǎn)和折射點(diǎn)角或K值的變化，并用曲面試塊作實(shí)際測(cè)定。

6.3.3.3 當(dāng)R大于W2／4采用平面對(duì)比試塊調(diào)節(jié)儀器，檢驗(yàn)中應(yīng)注意到熒光屏指示的缺陷深度或水平距離與缺陷實(shí)際的徑向埋藏深度或水平距離弧長(zhǎng)的差異，必要時(shí)應(yīng)進(jìn)行修正。6.4 其它結(jié)構(gòu)焊縫的檢驗(yàn)

盡可能采用平板焊縫檢驗(yàn)中已經(jīng)行之有效的各種方法。在選擇探傷面和探頭時(shí)應(yīng)考慮到檢測(cè)各種類型缺陷的可能性，并使聲束盡可能垂直于該結(jié)構(gòu)焊縫中的主要缺陷。7 規(guī)定檢驗(yàn) 7.1 一般要求

7.1.1 規(guī)定檢驗(yàn)只對(duì)初始檢驗(yàn)中被標(biāo)記的部位進(jìn)行檢驗(yàn)。

7.1.2 對(duì)所有反射波幅超過(guò)定量線的缺陷，均應(yīng)確定其位置，最大反射波幅所在區(qū)域和缺陷指示長(zhǎng)度。表7.1.2mm

檢驗(yàn)等級(jí)

A

靈敏度 評(píng)定靈敏度 定量靈敏度 判廢靈敏度

7.2 最大反射波幅的測(cè)定

7.2.1 對(duì)判定的缺陷的部位，采取6.2.3條的探頭掃查方式，增加探傷面、改變探頭折射角度進(jìn)行探測(cè)，測(cè)出最大反射波幅并與距離一波幅曲線作比較，確定波幅所在區(qū)域，波幅測(cè)定的允許誤差為2dB。

Φ3 Φ4 Φ6

Φ2 Φ3 Φ6

Φ2 Φ3 Φ4

B

C

7.1.3 探傷靈敏度應(yīng)調(diào)節(jié)到評(píng)定靈敏度，見表7.1.2直探頭檢驗(yàn)等級(jí)評(píng)定。7.2.2 最大反射波幅A與定量線SL的dB差值記為SL±——dB 7.3 位置參數(shù)的測(cè)定

7.3.1 缺陷位置以獲得缺陷最大反射波的位置來(lái)表示，根據(jù)相應(yīng)的探頭位置和反射波在熒光屏上的位置來(lái)確定如下全部或部分參數(shù)。

a、縱坐標(biāo)L代表缺陷沿焊縫方向的位置。以檢驗(yàn)區(qū)段編號(hào)為標(biāo)證基準(zhǔn)點(diǎn)(即原點(diǎn))建立坐標(biāo)。坐標(biāo)正方向距離上表示缺陷到原點(diǎn)的距離。

b、深度坐標(biāo)h代表缺陷位置到探傷面的垂直距離(mm)，以缺陷最大反射波位置的深度值表示。

c、橫坐標(biāo)q代表缺陷位置離開焊縫中心線的垂直距離，可由缺陷最大反射波位置的水平距離或簡(jiǎn)化水平距離求得。7.3.2 缺陷的深度和水平距離(或簡(jiǎn)化水平距離)兩數(shù)值中的一個(gè)可由缺陷最大反射波在熒光屏上的位置直接讀出，另一個(gè)數(shù)值可采用計(jì)算法、曲線法、作圖法或缺陷定位尺求出。

第五篇：渦流探傷與超聲波探傷初探

渦流探傷與超聲波探傷初探

一、關(guān)于無(wú)損檢測(cè)

工作后查找的第一個(gè)單詞叫做無(wú)損檢測(cè)。在度娘的選框里輸入：“無(wú)損檢測(cè)用英文怎么說(shuō)？”的時(shí)候，總覺(jué)得是不是應(yīng)該先找本新華字典或者百度知道里搜索一下無(wú)損檢測(cè)的中文含義。對(duì)于學(xué)文科的孩子來(lái)說(shuō)，在學(xué)校里，大概永遠(yuǎn)不會(huì)接觸到這么陌生的詞匯，但是一旦離開校園，就會(huì)接觸到很多很多意想不到的詞語(yǔ)：無(wú)損檢測(cè)，渦流探傷。也永遠(yuǎn)不會(huì)知道，銅管鋼管的檢測(cè)有他自己的方法。可以用超聲波檢測(cè)，也可以用渦流探傷儀來(lái)檢測(cè)。那么，什么是無(wú)損檢測(cè)呢？度娘說(shuō)：無(wú)損檢測(cè)就是利用聲、光、磁和電等特性，在不損害或不影響被檢對(duì)象使用性能的前提下，檢測(cè)被檢對(duì)象中是否存在缺陷或不均勻性，給出缺陷的大小、位置、性質(zhì)和數(shù)量等信息，進(jìn)而判定被檢對(duì)象所處技術(shù)狀態(tài)（如合格與否、剩余壽命等）的所有技術(shù)手段的總稱。專業(yè)的解釋，通俗的來(lái)說(shuō)，就是不損害被檢測(cè)物質(zhì)的前提下進(jìn)行的檢測(cè)。是的，我踏入了一個(gè)陌生的領(lǐng)域，無(wú)損檢測(cè)。

二、關(guān)于渦流探傷

渦流探傷：利用電磁感應(yīng)原理，檢測(cè)導(dǎo)電構(gòu)件表面和近表面缺陷的一種探傷方法。其原理是用激磁線圈使導(dǎo)電構(gòu)件內(nèi)產(chǎn)生渦電流，借助探測(cè)線圈測(cè)定渦電流的變化量，從而獲得構(gòu)件缺陷的有關(guān)信息。按探測(cè)線圈的形狀不同，可分為穿過(guò)式(用于線材、棒材和管材的檢測(cè))、探頭式(用于構(gòu)件表面的局部檢測(cè))和插入式(用于管孔的內(nèi)部檢測(cè))三種。

渦流探傷的儀器可以分為很多種，例如這一款：LJET-101型渦流探傷儀，他是這樣描述的：

LJET—101型穿過(guò)式系列渦流探傷儀是高端，全自動(dòng)、高分辨率、數(shù)字化的穿過(guò)式渦流探傷儀，用于鐵磁體、奧氏體鋼、有色金屬的管材、棒材、線材的表面及亞表面檢測(cè)。主要覆蓋點(diǎn)傷及環(huán)向缺陷，通用性強(qiáng)，應(yīng)用范圍廣。操作平臺(tái)基于Windows XP操作系統(tǒng)，可以方便地實(shí)現(xiàn)組網(wǎng)。參數(shù)調(diào)整簡(jiǎn)單，設(shè)置可存儲(chǔ)于硬盤，調(diào)用方便。檢測(cè)結(jié)果存儲(chǔ)于數(shù)據(jù)庫(kù),方便產(chǎn)品批號(hào)追溯。自帶遠(yuǎn)程在線診斷、在線幫助及口令保護(hù)。檢測(cè)直徑1~273mm，最小檢測(cè)缺陷孔徑符合國(guó)際渦流探傷標(biāo)準(zhǔn)孔徑，也可以與旋轉(zhuǎn)式探頭檢測(cè)系統(tǒng)聯(lián)合使用，以提供檢測(cè)覆蓋率，覆蓋全部縱向、橫向及通孔類缺陷。性能達(dá)到國(guó)際一流水平，完全可以與世界上最先進(jìn)的渦流探傷儀相媲美，而且操作方便，使用簡(jiǎn)單，配套技術(shù)服務(wù)完善。

LJET—101型穿過(guò)式系列渦流探傷儀是采用大規(guī)模進(jìn)口集成電路，結(jié)合最先進(jìn)的渦流探傷技術(shù)、光電感應(yīng)技術(shù)、微機(jī)控制技術(shù)的全自動(dòng)渦流檢測(cè)儀器。配以精美設(shè)計(jì)的機(jī)械傳動(dòng)裝置，形成完整的機(jī)電一體化系統(tǒng)，是國(guó)內(nèi)唯一具有成套完整系統(tǒng)的全自動(dòng)渦流探傷儀。采用基于WINDOWS XP操作系統(tǒng)的操作軟件使渦流探傷儀使用更為簡(jiǎn)潔、智能化。儀器經(jīng)過(guò)長(zhǎng)期的一線生產(chǎn)檢驗(yàn)，性能穩(wěn)定、可靠，具有自動(dòng)化程度高、檢測(cè)速度快等優(yōu)點(diǎn)。該儀器是專用于金屬管、棒、線材在線、離線檢測(cè)的渦流探傷儀。

LJET—101型穿過(guò)式系列渦流探傷儀采用實(shí)時(shí)渦流阻抗平面和動(dòng)態(tài)時(shí)基掃描顯示技術(shù)，實(shí)時(shí)同屏多窗口顯示檢測(cè)對(duì)象的渦流信號(hào)二維圖形及動(dòng)態(tài)時(shí)基曲線。計(jì)算機(jī)大屏幕信號(hào)顯示，采用多模式報(bào)警技術(shù)，使得儀器操作更加容易、可靠。

LJET—101型穿過(guò)式系列渦流探傷儀能夠快速檢測(cè)出各種不同材質(zhì)的金屬管、棒、線材的表面裂紋、暗縫、氣孔、夾雜和開口裂紋等缺陷。是汽車、航天、石化、冶金、機(jī)械等行業(yè)對(duì)金屬構(gòu)件的在線、離線或役前、在役檢測(cè)的通用儀器。

LJET—101型穿過(guò)式系列渦流探傷儀具有1KHZ——100KHZ測(cè)試頻率范圍，能夠適應(yīng)各種不同金屬管道的檢測(cè)要求。能夠在儀器內(nèi)建立標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)，方便用戶在更換不同規(guī)格的材料時(shí)調(diào)用?？膳浣玉詈祥g隙要求很低的穿過(guò)式探頭和其它結(jié)構(gòu)的探頭(探頭的選擇完全可根據(jù)用戶的檢測(cè)要求而定)，儀器可選配在線測(cè)速系統(tǒng)、磁飽和器以及噴墨裝置、探頭架等，以便實(shí)現(xiàn)金屬管棒線材在線或離線自動(dòng)渦流探傷。儀器技術(shù)參數(shù)也是我們會(huì)關(guān)注的點(diǎn),這款渦流探傷儀的參數(shù)如下: ☆ 檢測(cè)通道：1-10(可擴(kuò)展旋轉(zhuǎn)式通道，旋轉(zhuǎn)加穿過(guò)式組合探傷)☆ 檢測(cè)頻率：1KHz--100KHZ;☆ 線性增益：0—99.9dB連續(xù)可調(diào)，步長(zhǎng)：0.1dB;☆ 探傷速度：0.3m/min—12000m/min ☆ 長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定性：靈敏度dB值波動(dòng)≤1 dB ☆ 人工缺陷大小分辨率≤0.1mm ☆ 人工缺陷誤報(bào)率<1% ☆ 人工缺陷漏報(bào)率<1% ☆ 周向靈敏度差≤2 dB ☆ 信噪比≥15 dB ☆ 端部盲區(qū)：≤50mm ☆ 標(biāo)記精度：≤±50mm

☆ 相位旋轉(zhuǎn)：0--359度連續(xù)可調(diào)，步長(zhǎng)：1度 ☆ 多種顯示方式：V模式、Y模式、X/Y模式 ☆ 標(biāo)樣在探頭中振動(dòng)，信號(hào)不超過(guò)報(bào)警電平☆ 矢量分析報(bào)警模式: 扇形報(bào)警、幅值報(bào)警 ☆ 延時(shí)硬件輸出報(bào)警、實(shí)時(shí)硬件輸出報(bào)警 ☆ 多通道聲光報(bào)警輸出 ☆ 檢測(cè)長(zhǎng)度自動(dòng)計(jì)算統(tǒng)計(jì) ☆ 端頭、端尾信號(hào)自動(dòng)切除 ☆ 可大量存儲(chǔ)各種檢測(cè)程序和檢測(cè)數(shù)據(jù)

☆ 具有渦流探傷信號(hào)的回放記憶功能，可追溯缺陷的幅值、相位。

☆ 自動(dòng)記錄顯示缺陷數(shù)及其位置，自動(dòng)形成檢測(cè)報(bào)告(包括檢測(cè)數(shù)量、合格數(shù)和不合格數(shù)等信息)☆ 中英文操作界面、在線幫助

☆ 可編程控制：上料、下料、分選、標(biāo)記和聯(lián)動(dòng)等 ☆ 電源：交流220V±10%，50Hz±10% ☆ 環(huán)境溫度：-100C---550C ☆ 環(huán)境濕度：≤85%

三、關(guān)于超聲波

參加了一場(chǎng)關(guān)于超聲波的培訓(xùn)。一個(gè)未知的領(lǐng)域，教授級(jí)別的講師，這樣的機(jī)會(huì)不是人人都有的，而我就是這么幸運(yùn)的參加了。什么是超聲波？超聲波的工作原理。超聲波探傷儀與渦流探傷儀的區(qū)別于聯(lián)系。電脈沖，相位，和諧震動(dòng)，當(dāng)一切陌生的名詞從老師的口中蹦出，只能感嘆自己無(wú)知。在本子上記錄了很多很多，想把更多的信息變成自己的東西，在不停地學(xué)習(xí)與積累中壯大自己。上課的目的最終還是要了解超聲波探傷的用途及操作，例如：LJUT-100型旋轉(zhuǎn)超聲波探傷系統(tǒng)是專為檢測(cè)管棒材產(chǎn)品的內(nèi)部與近表面質(zhì)量問(wèn)題而研發(fā)的新一代檢測(cè)設(shè)備。擁有結(jié)構(gòu)緊湊，安裝調(diào)試方便，檢測(cè)結(jié)果直觀易懂，可靠，工作穩(wěn)定性良好等特點(diǎn)。LJUT-100型系列旋轉(zhuǎn)超聲波探傷系統(tǒng)對(duì)各種牌號(hào)及規(guī)格的管棒均適用，尤其是最新研發(fā)的外徑在Φ6－Φ125毫米范圍的銅鑄管坯的旋轉(zhuǎn)超聲波探傷應(yīng)用。本旋轉(zhuǎn)探頭配備裝在筒形檢測(cè)室內(nèi)的可調(diào)角度的水浸超聲波傳感器(2-6個(gè))。運(yùn)行時(shí)，水箱內(nèi)高速旋轉(zhuǎn)，被檢測(cè)管棒材直線運(yùn)動(dòng)，實(shí)現(xiàn)超聲波探頭圍繞被檢工件高速旋轉(zhuǎn)，實(shí)現(xiàn)對(duì)被檢管棒材100％的高速掃描檢測(cè)。采用旋轉(zhuǎn)方式驅(qū)動(dòng)超聲波傳感器，圍繞被檢測(cè)管棒材的檢測(cè)方式與比傳統(tǒng)的被檢測(cè)工件旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)的方法相比具有明顯的優(yōu)越性。檢測(cè)速度更快，探傷靈敏度更高，在線缺陷精確定位和定量，以及更簡(jiǎn)單的管棒材上、下料分選裝置和更快速、方便的規(guī)格切換。LJUT-100系列旋轉(zhuǎn)超聲波探傷系統(tǒng)使用全數(shù)字式多通道超聲探傷儀。該系列在線旋轉(zhuǎn)超聲波探傷儀操作軟件基于Windows XP系統(tǒng)平臺(tái)，使用專用于管棒材探傷的超聲探傷軟件，使檢測(cè)結(jié)果更直觀，操作更方便，具備檢測(cè)結(jié)果可記錄隨時(shí)調(diào)用查看等特點(diǎn)，同時(shí)可以和計(jì)算機(jī)周邊設(shè)備連接，完成打印報(bào)告或檢測(cè)結(jié)果網(wǎng)絡(luò)傳輸?shù)裙δ堋?/p>

檢測(cè)對(duì)像：有色金屬及黑色金屬管棒材

檢測(cè)范圍：各種牌號(hào)及規(guī)格(銅鑄管坯Φ6-Φ125mm)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：國(guó)內(nèi)外管棒超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn) 檢測(cè)速度：3-60m/min可調(diào)